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日期:2018-08-31点击数:105赞数:0

  仪器简介
  仪器采用加电压测电流的方法,电压输出1mV~1000V 直流测试,源内阻5k-100kΩ。电阻测量范围达10Ω~1016Ω,电流测试范围20uA~0.1pA,可有效分辨至1fA。
  测量功能还包括各种:表面绝缘电阻测试、绝缘材料和半导体的表面电阻率测量以及体积电阻率测量等。
  量程简介与选择
  仪器内部量程是根据测试电流决定的,  因为在超高阻测试中, 自动量程的选择容易出现不确定的状态, 所以仪器的量程由手动选择, 根据测试电压的不同由测试原理可计算出被测电阻的值:   R=V/I .  
  相应的电流量程和对应的电阻测试范围如下表:
  档位       电流范围       
  20uA     0.2uA--20uA       
  2uA     0.02uA –2uA       
  200nA   2nA--200nA        
  20nA    0.2nA--20nA       
  2nA     0.02nA--2nA        
  200PA   2PA—200PA       
  20PA    0.000PA--20PA     
  具体的测试电阻的范围计算公式:  R=V/I  选择不同的测试电压可以计算出相应的测试范围。  用户可以根据测试范围选择相对应的测试量程。  
  如:测试电压的要求是 100V  而被测电阻的大概范围 在 1010(10GΩ),可以计算出电流是100V/1010=10-8即 10nA , 则选择量程 20nA, 其余类推。 如果不能确定大概的测试范围可以选择比较大的电流量程,测试后再确定相应的量程。
  仪器在用户选择了测试电压和电流量程后,在液晶屏的下边显示区域中会显示相应的测试电阻范围。 用户也可以根据显示的电阻范围进行选择电流量程。 
  测量准备
  在进行高阻测量前,用户需要做好以下准备:
  1.环境选择
  进行高阻测试时,需在干燥的环境下进行。因为,潮湿的空气会使绝缘阻抗很低。同时,测试时应避免机械振动,以防止静电干扰。
  2.冶具选择
  在测试前,请先准备好测试治具,如果是需要测试高阻,请准备好静电箱。平时应保管好测试治具,保证它们的清洁,被污染的夹具由于电化学作用,会使绝缘阻抗下降,导致测量误差。建议用户使用少许易挥发的有机溶剂(如甲醇)清洗。
  3.静电屏蔽
  带电物体接近被测电路输入端时,会发生静电耦合和干扰。在低阻抗下,由于电荷迅速消散,所以干扰不明显。然而,高阻材料电荷衰减速度较慢,使被测物极化,从而产生不稳定的测试结果。
高阻测试时,由于空间直流或交流电场的影响,用户必须在静电箱中对被测物进行测试。
  4.正确连接电源线和测试线
  测试时,必须保证仪器的电源线有良好的接地,如果没有接地,会引起严重的共模干扰,影响仪器测量精度与稳定性。开机后,仪器的电压输出处于关闭状态,为了安全起见,测试线未连接好之前请勿打开充电按钮。
  测量步骤
  1.开机预热
  为了仪器的精度稳定性,开机需预热至少15分钟。
  2.连接好屏蔽箱

  按照要求,连接好静电箱。使用三环电极限进行测试的,需严格按照要求连接测试电缆,如图5,图6。三环电极内环中心的测试电缆严禁碰触外环电极,以避免测量数据的严重偏差。


  图中:(1)测量电极 (2)高压电极 (3)保护电极 (4)被测试样
  尽量避免采样线过度扭曲,频蔽线在扭曲时会产生压电效应,再慢慢伸展时会产生摩擦静电,会导致测试误差,或读数跳动,如图。

  3.根据被测件大致阻值,选择合适电流量程。
  4.系统清零
  未夹被测件时,打开充电按钮,待电流趋于稳定,若电流底数较大,需对仪器进行清零操作;若电流底数在零点附近,则不需要对仪器进行清零。按下液晶屏右下角的清零按钮,此时,屏幕的清零指示状态为“开”,表示该量程的电流底数已经被清除。
  5.进行测试
  清零结束后,设置被测件的测试电压和充电时间,随后按充电按钮进行测试。若充电时间到后电流显示为UUUUUUU,则代表此时的电流过大,需返回步骤3重新开始。测试结束后,按下ESC键放电。
  注意:
  1.在测试电阻率较大的材料时,由于材料易极化,应采用较高测试电压。在进行体积电阻和表面电阻测量时,应先测体积电阻,反之,由于材料被极化和影响体积电阻。当高阻材料测量后容易产生极化,会使测量无法进行下去,这时需停止对这种材料的测试,置于净处8-10h后再测量或者放在无水酒精内消洗,烘干,等冷却后再进行测量。
  2.在对同一块试样而采用不同的测试电压时,一般情况下所选择的测试电压越高所测得的电阻值偏低。
  3.测试时,人体不能接触仪器的高压输出端及其连接物,防止高压触电危险。
  4.换检测样品时需先放电、断开高压输出电源。
  建立时间
  在进行高电阻测量时,电路的建立时间特别重要。测量的建立时间受并联电容的影响,而并联电容则是由连接电缆、测试夹具和DUT 产生的。如图1所示,并联电容(CSHUNT)必须由测试电流(IS)充电到测试电压。电容器充电所需要的时间由RC时间常数决定(一倍时间常数 ),并得到图2中大家熟悉的指数曲线。这样就需要等待4倍到5倍时间常数的时间才达到准确的读数。在测量很高阻值的电阻时,依据测试系统中并联电容的数值,建立时间可能会达到几分钟。例如,如果CSHUNT仅为10pF,测量1TΩ的电阻时,时间常数为10秒。因此,为使读数稳定到与其 终值相差1%,就需要50秒的建立时间。
  在测量高阻值电阻时,为了尽量减小建立时间,使连接电缆尽可能地短,以便使系统中的并联电容实际上达到可能的 小值。此外,使用保护技术可以大大降低建立时间。 ,由于减小了建立时间,所以采用加电压测电流的方法测量电阻一般比较快。



  总的说来,遵守下列指导原则能够尽量降低静电耦合产生的电流:

  彩票计划神器1.使所有带电物体(包括人员)和导体远离测试电路的敏感区域。

  2.在测试区域附近避免运动和振动,同时应避免较强的气流流动,如风扇、大风等。

  3.测试过程中,应避免外界物体或人触碰仪器彩票计划神器、测试电缆、静电箱。

  超高阻测试时,任何一个细节的错误操作都会引起测试结果产生严重偏差。因此,用户应仔细阅读本说明,避免测试结果产生偏差。感谢您的理解和支持!