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CXT2667超低四探针方阻测试仪

  • 2018-08-20
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  • 王先生
  • 常州武进高新技术开发区
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  CXT2667四探针测试仪是一款采用双电测-改进型范德堡法测试电阻率/方阻的具有超低电阻测试功能的多用途综合测量仪器。尤其适用于超低阻值材料的测试。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。仪器运用双电测原理,进行多次测量,自动消减样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高测量精度和一致性。本仪器采用高性能微处理器,用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;并配以4.3寸彩色液晶屏显示读数,使仪器具有外形美、易操作、测量速度快、宽量程、精度高、稳定性好、智能化程度高的特点。仪器配置 U盘数据记录接口,可方便的进行测试数据的记录,USB接口和RS232接口可与电脑相连接,电脑配套操作软件可以方便直观的直接对仪器进行全功能操作, 并记录数据,也可通过上位机软件描绘材料的特性曲线,方便对材料进行电气分析。


应用
  仪器具有10-7 欧姆的超低分辨率,尤其适合金属片、炭素等导体的超低电阻/电阻率的测试。仪器同时也适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校等研究生产单位对导体材料、半导体材料、器件的导电性能的测试,满足对材料(棒材、片材等)的电阻率及扩散层、离子注入层、异型外延层和导电薄膜、各种金属箔、银浆涂层、锂电池隔膜等各种新型电子薄膜等导电材料的电阻/方阻/电阻率的测试需要。

成套组成

由CXT2667主机、选配的四探针探头、测试台及选配上位机软件等组成


探头选型指南

  根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等材料的电阻率/方阻。
  由于新型薄膜材料种类繁多,研制过程中样品性能变化较大,而且各种薄膜的机械强度,允许承受的电压、电流均不相同,因此该仪器可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头。
  根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。详细请见探头选型表。

探头选型表



性能特点
1、32位核心处理器,双电测测试模式,测量精度高、稳定性好
2、4.3英寸彩色液晶屏可同时显示电阻、电阻率、方阻;也可单独显示,直观清晰
3、精度高:电阻基本精度:0.05%   方阻基本精度:3 %  电阻率:3 %
4、测量范围宽: 电阻:10-7Ω-106Ω
方阻:10-7Ω/□-106Ω/□
电阻率:10-7Ω.cm-106Ω.cm
5、电阻 小分辨: 0.1uΩ,可测量金属箔等超低阻材料
6、可手动或自动选择测试量程
7、双电测模式修正探针游移,提高方阻测试精度
8、材料厚度等参数可预设,自动修正样品电阻率,无需查表
9、全量程自动清零功能
10、可预置标准值,仪器可显示直读、偏差
11、3档分选功能,1档合格,1档超上限,1档超下限
12、具备温度补偿功能,修正被测材料温漂带来的测试结果偏差
13、RS232C、USB口实现远程控制
14、U盘可记录测试数据
15、适合各种测试探头,可测多种材料和参数

技术指标


标准配件


可选配件



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