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CXT2669 超高四探针方阻测试仪

  • 2018-08-20
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  • 王先生
  • 常州武进高新技术开发区
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  CXT2669/A四探针测试仪是一款采用四探针法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。尤其适用于超高阻值材料的测试。仪器采用高性能微处理器, 并配以4.3寸彩色TFT显示屏,使仪器具有易操作、测量量程宽、精度高、稳定性好、智能化程度高的特点。所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入;手动/自动转换量程可选。CXT2669/A可选配 U盘数据记录接口,方便的进行测试数据的记录;标配USB接口和RS232接口可与电脑相连接;HANDLER接口可以方便的连接PLC等工业控制设备,以适应批量检测,电脑配套操作软件可以方便直观的直接对仪器进行全功能操作、并记录数据;也可描绘材料的特性曲线,方便对材料进行电气分析。


应用
  CXT2669系列是可测试超高阻抗的电阻/电阻率/方阻多用途综合测量仪器。尤其适用于超高阻值材料的测试。通过选配不同的测试夹具,可以测试导电薄膜、半导体、半绝缘体等材料的电阻率/方阻;选用四端子测试夹具,还可以对电阻器电阻、绝缘电阻等进行测量。 仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校等研究生产单位对导体、半导体材料、类半导体材料、半导体半绝缘体材料、器件、ITO膜等的导电性能大范围电阻/电阻率的测试。

仪器成套组成

  由CXT2669/A主机、选配的四探针探头、测试台以及选配的PC软件等部分组成。

探头选配

  根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等材料的电阻率/方阻。
  由于新型薄膜材料种类繁多,研制过程中样品性能变化较大,而且各种薄膜的机械强度,允许承受的电压、电流均不相同,因此该仪器可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头。
  对半导体半绝缘体等高阻材料测试,需要根据用户需求定制专用测试夹具。
  根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。详细请见探头选型表。

探头选型表



性能特点
1、32位核心处理器,双向测试模式,测量精度高、稳定性好
2、4.3英寸彩色液晶屏可同时显示电阻、电阻率、方阻;也可单独显示,直观清晰
3、精度高:电阻基本精度:0.5%   方阻基本精度:4 %  电阻率:4 %
4、测量范围宽: 电  阻:10-4Ω-1012Ω、10-4Ω-1015Ω
  方  阻:10-4Ω/□-109Ω/□、10-4Ω/□-1012Ω/□
  电阻率:10-4Ω.cm-109Ω.cm、10-4Ω.cm-1012Ω.cm
5、可手动或自动选择测试量程
6、正反向电流源修正误差
7、材料厚度等参数可预设,自动修正样品电阻率,无需查表
8、全量程自动清零功能
9、可预置标准值,仪器可显示直读、偏差
10、3档分选功能,1档合格,1档超上限,1档超下限
11、具备温度补偿功能,修正被测材料温漂带来的测试结果偏差
12、HANDLER、RS232C、USB口实现远程控制
13、U盘可记录测试数据
14、适合各种测试探头,可测多种材料和参数

技术指标


标准配件


可选配件



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